檢測開關(guān)是跟其他電路元件接在一�,用來檢測元件或電路的參�(shù)(如電流,電壓等)的一種開�(guān),檢測開�(guān)具有感應(yīng)功能,主體通常為各種感�(yīng)開關(guān)或接近開�(guān),需要外接電源才能工作�
檢測開關(guān)根據(jù)其用途具有各式各樣的輸出方法�
1. 接點輸出�
以微型開�(guān)、限位開�(guān)、繼電器的接點為輸出的開�(guān)要素,與電磁開關(guān)、小型馬�(dá)、電磁器等連接作為主要目的,可進行�(shù)安培電流的開�(guān)控制。與電子控制�(shè)備連接�,需注意振動時間、最小負(fù)荷電流�
2. 光電耦合輸出�
檢測電路電氣絕緣,與接點輸出式的使用方法相同。可控制10�50mA電流的開�(guān)�
3. 直流3線式
a. 電壓輸出�
如圖7所示的輸出電路,進行檢測時,向負(fù)荷輸出電壓信�。電壓輸出型主要是以連接由電子計�(shù)�、無接點繼電器等的晶體管或IC�(gòu)成的電子控制�(shè)備為目的而制造的�
b. 電流輸出�
亦可稱為開放、集電極輸出�。如�8所示,輸出晶體管動作時,有吸入電流的NPN�(電流吸收)和吐出電流的PNP�(電流�)。輸出晶體管中使用小容量的功率晶體管,則可進行50�200mA電流的開�(guān),并可直接進行電磁繼電�、電磁閥、直流電磁器、顯示燈等負(fù)荷的�(qū)��
4. 直流2線式
該方式的接近開關(guān)�2根導(dǎo)線,因此,使用時對極性予以注意的�,不僅使用方法可與機械式限位開關(guān)相同,而且配線簡單,但需注意下述狀況�
(1) 即使開關(guān)處于�(guān)閉狀�(tài),也需向接近開�(guān)的檢測電路供給電�。為�,負(fù)荷中有微量電流流�。該電流稱為漏電�。漏電流時,�(fù)荷兩端產(chǎn)生“漏電流×�(fù)荷電阻值”的電壓,此時使用高阻抗�(fù)荷會�(chǎn)生回�(fù)不良的現(xiàn)��
(2) 開關(guān)開啟�,需向檢測電路供給電�,此時,若開�(guān)不處于全開狀�(tài),會�(fā)生數(shù)伏電壓下降的�(xiàn)�。該電壓稱為殘余電壓。為�,電源電壓需為“殘余電�+�(fù)荷動作電壓”的電壓�。最近的�(chǎn)�,一般漏電流�1mA以下,殘余電壓為3�5V�
PC、繼電器、電磁器、燈等可作為�(fù)荷使�,TTL等邏輯電路的輸入需注意前述事項�
5. 交流2線式
可使用AC200V的市用電�,進行50mA�1A的交流負(fù)荷電源的開關(guān)。開�(guān)部件使用可控硅,動作原理與直�2線式相同,因此,即使在開�(guān)�(guān)閉時,亦需向負(fù)荷供給電流�
由于開關(guān)開啟�,向�(nèi)部電路供給電�,為�,需使可控硅為非接通角,或與可控硅串聯(lián)插入�(wěn)壓二極管,以至產(chǎn)生殘余電壓。因�,在選擇�(fù)荷時�(yīng)予以注意。交�2線式的漏電流�1.5�2mA,殘余電壓在10V左右。發(fā)生動作不良、回�(fù)不良�(xiàn)象時,應(yīng)事先與負(fù)荷并�(lián)并安裝分流電��
使用條件�
溫度�-25-70�
相對濕度;95[%](40�)
額定�(fù)荷:DC30V 0.1mA
接觸電阻:≤50MΩ
絕緣電阻:≥50MΩ
耐電壓: AC250V 50Hz/1min
� 路: 1C-2P
� 命: 100000�
檢測開關(guān)的輸出種類在前面已作了介�。進行直接或通過繼電器向電磁�、馬�(dá)�(qū)動器、計�(shù)�、程序控制器(PC)輸入時使用。為使檢測用開關(guān)與其他設(shè)備連接后信號得到正確的傳輸,需對電源種類、電�、電壓規(guī)格進行輸出、輸入調(diào)��
1. 接點輸出傳感器與PC的連接
作為PC的輸入模塊,可使用AC輸入模塊和DC輸入模塊。為將來自輸入模塊的電流控制�10mA之內(nèi),需對接觸的可靠性進行研究。作為其對策,可將輸入模塊與虛設(shè)電阻并聯(lián),使通過接點電流增加,或使用具有微小電流接點的開�(guān)�
2. 直流開關(guān)型負(fù)公共端檢測開�(guān)的連接
確認(rèn)檢測開關(guān)的輸出電�(同步電流)大于PC輸入模塊的開啟電流。使用電壓輸出型檢測開關(guān)�,為防止由于電流逆流向傳感器引起錯誤動作,傳感器電源與輸入模塊電源的使用電壓�(yīng)相同�
3. 直流(交流)2線式檢測開關(guān)的連接
確認(rèn)檢測開關(guān)開啟時的漏電流比PC輸入模塊的關(guān)閉電流小,而電源電壓減去傳感器開啟時殘余電壓的值大于PC輸入模塊輸入開啟電壓。開�(guān)�(guān)閉時的漏電流大于PC輸入模塊�(guān)閉時的電流時,與輸入模塊并聯(lián)連接虛設(shè)電阻,使流向PC輸入模塊的電流減小即�。使用附帶氖燈或�(fā)光二極管的限位開�(guān)等亦需采取同樣方法�
4. 檢測開關(guān)與計�(shù)器的連接
計數(shù)器種類分為無電壓輸入型和電壓輸入型。使用電壓輸入型時,需對使用電壓輸出型的傳感器�(diào)整“H�、“L”等級進行確認(rèn)。使用無電壓輸入型時,應(yīng)同時使用直流開關(guān)型負(fù)公共端輸出或接點輸出�。與接點輸出型共同使用時,需對從計數(shù)器中流出的數(shù)毫安電流是否確實具有開關(guān)動作性能進行確認(rèn)�
5. 檢測開關(guān)與電感性負(fù)載的連接
電感性負(fù)�(磁體、繼電器、電磁器)切斷�,產(chǎn)生數(shù)千伏的反電動�,從而引起無接點輸出型輸出元件的破壞和接點輸出型接點表面的粗糙導(dǎo)致的接觸不良�(xiàn)象。作為其對策,應(yīng)盡量在最接近電感性負(fù)荷之處并�(lián)反電動勢吸收元件(CR、非線性電�、二極管)�
1. 使用初期的故�
以光電開�(guān)、接近開�(guān)等為主體的檢測開�(guān),半�(dǎo)體一般會在使用初期發(fā)生故障�
其原因是使用在回路中的半�(dǎo)�,在制造中受到種種�(yīng)力而導(dǎo)致在使用開始后的短期�(nèi)�(fā)生破�;另�,功率比半導(dǎo)體低的電�、電容也是造成使用初期故障的原�。初期故障的�(fā)生時�,根�(jù)制造方法的不同而不�,不能一概而論,一般多�(fā)生在使用開始后的一星期�10天內(nèi)�
2. 偶發(fā)故障
包括由于半導(dǎo)體部件的不良而引起的故障,電阻、電容的斷線、短路、容量不�,電路板的電路斷�、帶焊料等的不良�(xiàn)�,但�(fā)生率極低。接近開�(guān)�(jīng)常發(fā)生故障時,可以考慮為使用環(huán)境的問題,請向廠家咨��
3. �(fù)荷短路與配線錯誤
由于配線錯誤或帶電作�(yè)引起�(fù)荷短路時,導(dǎo)致大電流流向檢測開關(guān),輸出回路燒毀。作為在檢測開關(guān)外進行的保護對�,可使用切斷快速熔斷器短路電流的方�,通過熔斷器進行保護,不僅可保護�(fù)荷短�,還對地線有保護作用。但�,由于開�(guān)�(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小,達(dá)不到100[%]的效��
4. 干擾波導(dǎo)致的破損
由干擾波帶來的破損是慢慢形成�,因此在開始使用后的一個月或二三個月后發(fā)生破損是極其普通的。因�,在該期間發(fā)生破損時,其原因則可判斷為干擾波。電感負(fù)載開閉時�(fā)生的檢測開關(guān)的瞬間錯誤動作是由干擾波造成��
維庫電子�,電子知�,一查百��
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