CCD平整度檢�(cè)儀是電子產(chǎn)品中不可缺少的部�,多引腳小間�IC器件在電子產(chǎn)品生�(chǎn)�(guò)程中受到外界壓力影響,其針腳的平整度和正位度是否在精度要求內(nèi),就需要后�(xù)的檢查修正,并且要滿(mǎn)足貼裝過(guò)程的�(shí)�(shí)性和高速高精度要求,因此,芯片平整度的檢測(cè)是非常重要的一�(gè)�(huán)節(jié)�
基于�(jī)器視�(jué)圖像處理技�(shù)研究�(kāi)�(fā)芯片平整度檢�(cè)系統(tǒng)(CCD平整度檢�(cè)儀)是光電一體化的高精度在線(xiàn)檢測(cè)�(shè)�,專(zhuān)門(mén)用于檢測(cè)各種IC芯片針腳及其平整度(水平直線(xiàn)�、共面度�、間�、針腳寬度等。系�(tǒng)�(jiǎn)單設(shè)定后,即可自�(dòng)�(shí)�、檢�(cè),無(wú)須人員操�。該�(chǎn)品圖像清晰直觀,可以方便快速準(zhǔn)確的檢驗(yàn)�(chǎn)品的平面度,明顯提高工作效率和產(chǎn)品質(zhì)�!芯片平整度檢測(cè)系統(tǒng)在檢�(cè)�(biāo)定平面度�(shí)能達(dá)�0.01mm以上的精�??筛�?jù)檢測(cè)要求�(shè)定平整度誤差范圍。對(duì)不符合要求的工件檢測(cè)后輸出控制信�(hào),可用于剔除不合格品�
檢測(cè)芯片針腳的�(gè)�(shù)�
可測(cè)量芯片針腳的多�(gè)位置的幾何尺�,包括pitch間隔、寬�、高度等�
檢測(cè)針腳的共�(xiàn)度等平整度指�(biāo)�
系統(tǒng)檢測(cè)到質(zhì)量問(wèn)題時(shí),能�(fā)出報(bào)警信�(hào),并輸出控制信號(hào)�
可對(duì)檢查出的所有廢品對(duì)�(yīng)的圖像能夠存�(chǔ)和查��
系統(tǒng)有自�(xué)�(xí)功能,且�(xué)�(xí)�(guò)程操作簡(jiǎn)��
系統(tǒng)可通過(guò)RS232接口或以太網(wǎng)接收上位�(jī)控制信號(hào)�
操作界面清晰明了,簡(jiǎn)單易�,只需�(jiǎn)單設(shè)定即可自�(dòng)�(zhí)行檢�(cè)�
檢測(cè)軟件及算法完全自主開(kāi)�(fā),采用亞像素技�(shù)�(shí)�(xiàn)超高的檢�(cè)精度�
可靈活設(shè)置模板查找、平均灰度值檢�(cè)等多種檢�(cè)算法�
可選擇局部掃描功�,提高檢�(cè)速度�
化光源設(shè)�(jì),成像清晰均勻,確保不形成光��
支持多種IC�(chǎn)品的檢測(cè)、具備產(chǎn)品在�(xiàn)自動(dòng)搜索等功��
安裝�(jiǎn)�,不影響原生�(chǎn)�(xiàn)工作;結(jié)�(gòu)緊湊,易于操作、維�(hù)和擴(kuò)��
可靠性高,運(yùn)行穩(wěn)�,適合各種現(xiàn)�(chǎng)�(yùn)行條件�
基于PC平臺(tái),系�(tǒng)可擴(kuò)充性強(qiáng),基于機(jī)器視�(jué)軟件平臺(tái)可擴(kuò)展管腳測(cè)量等功能,也可外接SPC軟件�
維庫(kù)電子�,電子知�(shí),一查百��
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