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BGA�(cè)試儀
閱讀�3557�(shí)間:2011-04-25 19:42:11

  目前IC使用率增�(zhǎng)隨之不良率及反修率也越來(lái)越高,BGA�(cè)試儀可以�(cè)試IC各腳之間�(kāi)短路,對(duì)GND和VCC的clamp diode, �(duì)地及相關(guān)腳的電阻電容,對(duì)IC上電,量�(cè)�(guān)鍵點(diǎn)的電壓等手段檢測(cè)出不良IC,并能對(duì)不良情況�(jìn)行統(tǒng)�(jì),以便做分析并查找對(duì)�。此方式�(duì)IC可測(cè)率達(dá)�98%以上。將是IC�(cè)試的�(shí)惠快速測(cè)試的變革,為BGA封裝不良返修�(cè)試提供行之有效測(cè)試解決方案�

�(cè)試項(xiàng)�

  IC�(nèi)部的�(kāi)短路�(cè)��

  IC �(nèi)的保�(hù)二極體測(cè)��

  IC上元器件值的�(cè)� �

  封裝與晶圓錫球接�(diǎn)的開(kāi)短路�(cè)��

  �(duì)IC上電,測(cè)試關(guān)鍵點(diǎn)的電�,來(lái)檢測(cè)�(nèi)部功能�

  Pin to Pin 、Pin to GND 、Pin to VCC 阻抗比對(duì)�(cè)��

  Pin to Pin 、pin to GND 、Pin to VCC 電容比對(duì)�(cè)��

  通用GPIB�(kuò)展來(lái)量測(cè)IC�(guān)鍵點(diǎn)波形,頻率等參數(shù)�

特點(diǎn)

  支持GPIB外圍�(shè)備擴(kuò)展功��

  模塊化設(shè)�(jì),為�(kuò)展多種功能提供了�(cè)試平�(tái)�

  Board View功能可即�(shí)顯示不良腳位,針�(diǎn)位置,方便檢��

  �(cè)試程序全部自�(dòng)生成并ATPD(Auto Test Program Debug��

  PTI818 BGA�(cè)試儀系統(tǒng)具自我診斷功能及�(yuǎn)端監(jiān)控和遙控功能�

  完整豐富的測(cè)試統(tǒng)�(jì)資料及報(bào)�,且自動(dòng)�(chǔ)�,不因斷電而遺失數(shù)�(jù)�

  豐富的測(cè)試信�(hào)源及Reed Relay Switching Board,大大的保證了�(wěn)定性和�(cè)試覆蓋率�

�(yīng)用范�

  一、大批量返修IC的檢�(cè)�

  �、不良IC的故障原因的查找及統(tǒng)�(jì),以便改�(jìn)�(shè)�(jì)�

  �、IC�(zhì)不高的來(lái)料檢查,查出率在99.5%以上,且速度��

維庫(kù)電子�,電子知�(shí),一查百��

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