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ic芯片
閱讀�4885�(shí)間:2017-03-03 09:02:55

  IC芯片(Integrated Circuit集成電路)是將大量的微電子元器�(晶體��電阻�電容�)形成的集成電路放在一塊塑基上,做成一塊芯片。而今幾乎所有看到的芯片,都可以叫做IC芯片�

�(jiǎn)�

  IC芯片(Integrated Circuit集成電路)是將大量的微電子元器�(晶體�、電�、電容等)
  形成的集成電路放在一塊塑基上,做成一塊芯�。而今幾乎所有看到的芯片,都可以叫做IC芯片�
  集成電路(integrated circuit)是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝,把一�(gè)電路中所需的晶體管、二極管、電�、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片�,然后封裝在一�(gè)管殼�(nèi),成為具有所需電路功能的微型結(jié)�(gòu);其中所有元件在�(jié)�(gòu)上已組成一�(gè)整體,使電子元件向著微小型化、低功耗和高可靠性方面邁�(jìn)了一大步。它在電路中用字母“IC”表示。集成電路發(fā)明者為杰克·基爾比(基于硅的集成電路)和羅伯特·諾伊思(基于鍺的集成電路�。當(dāng)今半�(dǎo)體工�(yè)大多�(shù)�(yīng)用的是基于硅的集成電��

�(chǎn)品分�(lèi)

  一、集成電路的種類(lèi)一般是�?xún)?nèi)含晶體管等電子組件的�(shù)量來(lái)分類(lèi)�
  SSI(小型集成電路),晶體管�(shù)10�100�(gè)�
  MSI(中型集成電路),晶體管�(shù)100�1000�(gè)�
  LSI(大規(guī)模集成電�),晶體管�(shù)1000�100000�
  VLSI(超大�(guī)模集成電�),晶體管�(shù)100000以上�
  二、按功能�(jié)�(gòu)分類(lèi):集成電路按其功�、結(jié)�(gòu)的不�,可以分為模擬集成電路和�(shù)字集成電路兩大類(lèi)�
  �、按制作工藝分類(lèi):集成電路按制作工藝可分為半�(dǎo)體集成電路和膜集成電�。膜集成電路又分�(lèi)厚膜集成電路和薄膜集成電路�
  �、按�(dǎo)電類(lèi)型不同分�(lèi):集成電路按�(dǎo)電類(lèi)型可分為雙極型集成電路和單極型集成電�。雙極型集成電路的制作工藝復(fù)�,功耗較�,代表集成電路有TTL、ECL、HTL、LST-TL、STTL等類(lèi)�。單極型集成電路的制作工藝簡(jiǎn)單,功耗也較低,易于制成大�(guī)模集成電路,代表集成電路有CMOS、NMOS、PMOS等類(lèi)��
  �、按用途分�(lèi):集成電路按用途可分為電視�(jī)用集成電路。音響用集成電路、影碟機(jī)用集成電�、錄像機(jī)用集成電�、電�(微機(jī))用集成電�、電子琴用集成電路、通信用集成電�、照相機(jī)用集成電�、遙控集成電�、語(yǔ)言集成電路、報(bào)警器用集成電路及各種�(zhuān)用集成電��

�(fā)展歷�

  1965�-1978年:以計(jì)算機(jī)和軍工配套為目標(biāo),以�(kāi)�(fā)邏輯電路為主要產(chǎn) 品,初步建立集成電路工業(yè)基礎(chǔ)及相�(guān)�(shè)�、儀�、材料的配套條件
  1978�-1990年:主要引�(jìn)美國(guó)二手�(shè)備,改善集成電路裝備水平,在“治散治亂”的同時(shí),以消費(fèi)�(lèi)整機(jī)作為配套重點(diǎn),較好地解決了彩電集成電路的�(guó)�(chǎn)化 1
  1990�-2000年:�908工程�909工程為重�(diǎn),以CAD為突破口,抓好科技攻關(guān)和北方科研開(kāi)�(fā)基地的建�(shè),為信息�(chǎn)�(yè)服務(wù),集成電路行�(yè)取得了新的發(fā)��
  2009年全球半�(dǎo)體市�(chǎng)�(guī)模為2263.1億美元,市場(chǎng)同比下滑9.0%。從5年發(fā)展周期來(lái)��2005�-2009�4年間全球半導(dǎo)體市�(chǎng)�(fù)合增�(zhǎng)率為-0.1%,全球市�(chǎng)的發(fā)展已�(jīng)連續(xù)多年處于低迷期。中�(guó)集成電路市場(chǎng)�2009年也首度出現(xiàn)下滑,但從未�(lái)�(fā)展看,中�(guó)市場(chǎng)將從2010年開(kāi)始�(jìn)入新一輪成�(zhǎng)期,未來(lái)3年增速將保持�10%以上�
  下滑的直接原因有兩方面:一方面是下游產(chǎn)品對(duì)上游集成電路�(chǎn)品需求量下降;另一方面是集成電路產(chǎn)品價(jià)格的下降,集成電路產(chǎn)品價(jià)格一直以�(lái)都呈下降趨勢(shì),�2009年由于國(guó)際金融危�(jī)影響,價(jià)格下滑更加明��2009年芯片均�(jià)�2008年相比下滑幅度超�(guò)10%。此�,雖�2009年我�(guó)政府出臺(tái)了一系列刺激政策,包括“家電下�(xiāng)�、“三�(wǎng)融合”等,但�,這些政策從產(chǎn)�(yè)鏈下游傳�(dǎo)到上游需要一定時(shí)間�
  雖然中國(guó)集成電路市場(chǎng)�(fā)展在2009年首度下�,但仍然好于全球市場(chǎng)的發(fā)�,也就是�(shuō),雖然中�(guó)市場(chǎng)出現(xiàn)衰退,但是中�(guó)市場(chǎng)在全球市�(chǎng)上的地位仍然在提高,或者說(shuō)中國(guó)市場(chǎng)所占全球市�(chǎng)份額的比重仍然有所提升。而今,中�(guó)集成電路市場(chǎng)增長(zhǎng)了近50%,�2009年的全球集成電路市場(chǎng)則基本與2005年持�。近幾年�(lái),在全球集成電路市場(chǎng)�,中�(guó)市場(chǎng)的份額和地位明顯提升�
  2010年將�(jìn)入新一輪成�(zhǎng)期 中國(guó)集成電路市場(chǎng)在經(jīng)歷了2009年的衰退之后�2010年必定會(huì)成為市場(chǎng)�(fù)蘇的一年� PC、手�(jī)、平板電視等�(chǎn)品仍然將是拉�(dòng)市場(chǎng)�(fā)展的主要?jiǎng)恿�?BR>  �(jù)�2013年國(guó)�(nèi)IC卡芯片供�(yīng)被恩智浦壟斷的格局正在生變。同方國(guó)芯等�(guó)�(nèi)廠商IC卡芯片通過(guò)銀�(lián)�(rèn)證,這宣布金融IC卡芯片國(guó)�(chǎn)化正式啟�(dòng)�
  按照金融卡的�(fā)放�(jìn)�,自2013�1�1日起,全�(guó)性商�(yè)銀行應(yīng)�(kāi)始發(fā)行金融IC��2015�1�1日起,在�(jīng)�(jì)�(fā)�(dá)地區(qū)和重�(diǎn)合作行業(yè)�(lǐng)域,商業(yè)銀行發(fā)行的、以人民幣為�(jié)算賬戶的銀行卡�(yīng)為金融IC�??梢灶A(yù)期,金融卡的�(fā)卡數(shù)量將出現(xiàn)井噴�

檢測(cè)鑒別

  檢測(cè)常識(shí)
  1、檢�(cè)前要了解集成電路及其相關(guān)電路的工作原理 檢查和修理集成電路前首先要熟悉所用集成電路的功能、內(nèi)部電路、主要電氣參�(shù)、各引腳的作用以及引腳的正常電壓、波形與外圍元件組成電路的工作原�。如果具備以上條�,那么分析和檢查�(huì)容易許多�
  2、測(cè)試不要造成引腳間短路 電壓�(cè)量或用示波器探頭�(cè)試波形時(shí),表筆或探頭不要由于滑動(dòng)而造成集成電路引腳間短�,在與引腳直接連通的外圍印刷電路上�(jìn)行測(cè)�。任何瞬間的短路都容易損壞集成電路,在測(cè)試扁平型封裝的CMOS集成電路�(shí)更要加倍小��
  3、嚴(yán)禁在�(wú)隔離變壓器的情況�,用已接地的�(cè)試設(shè)備去接觸底板帶電的電�、音�、錄像等�(shè)備 �(yán)禁用外殼已接地的儀器設(shè)備直接測(cè)試無(wú)電源隔離變壓器的電視、音�、錄像等�(shè)�。雖然一般的收錄�(jī)都具有電源變壓器,當(dāng)接觸到較特殊的尤其是輸出功率較大�?qū)Σ捎玫碾娫葱再|(zhì)不太了解的電視或音響�(shè)備時(shí),首先要弄清該機(jī)底盤(pán)是否帶電,否則極易與底板帶電的電�、音響等�(shè)備造成電源短路,波及集成電�,造成故障的�(jìn)一步擴(kuò)��
  4、要注意電烙鐵的絕緣性能 不允許帶電使用烙鐵焊�,要確認(rèn)烙鐵不帶電,把烙鐵的外殼接地,對(duì)MOS電路更應(yīng)小心,能采用6~8V的低壓電路鐵就更安全�
  5、要保證焊接�(zhì)量 焊接�(shí)確實(shí)焊牢,焊錫的堆積、氣孔容易造成虛焊。焊接時(shí)間一般不超過(guò)3秒鐘,烙鐵的功率�(yīng)用內(nèi)熱式25W左右。已焊接好的集成電路要仔�(xì)查看,用歐姆表測(cè)量各引腳間有否短�,確�(rèn)�(wú)焊錫粘連現(xiàn)象再接通電��
  6、不要輕易斷定集成電路的損壞 不要輕易地判斷集成電路已損壞。因?yàn)榧呻娐方^大多�(shù)為直接耦合,一旦某一電路不正常,可能�(huì)�(dǎo)致多處電壓變�,而這些變化不一定是集成電路損壞引起�,另外在有些情況下測(cè)得各引腳電壓與正常值相符或接近�(shí),也不一定都能說(shuō)明集成電路就是好�。因?yàn)橛行┸浌收喜�?huì)引起直流電壓的變��
  7、測(cè)試儀表內(nèi)阻要大 �(cè)量集成電路引腳直流電壓時(shí),應(yīng)選用表頭�(nèi)阻大�20KΩ/V的萬(wàn)用表,否則對(duì)某些引腳電壓�(huì)有較大的�(cè)量誤��
  8、要注意功率集成電路的散熱 功率集成電路�(yīng)散熱良好,不允許不帶散熱器而處于大功率的狀�(tài)下工��
  9、引線要合理 如需要加接外圍元件代替集成電路內(nèi)部已損壞部分,應(yīng)選用小型元器�,且接線要合理以免造成不必要的寄生耦合,尤其是要處理好音頻功放集成電路和前置放大電路之間的接地��
  鑒別方法
  1、不在路檢測(cè)
  這種方法是在IC未焊入電路時(shí)�(jìn)行的,一般情況下可用�(wàn)用表�(cè)量各引腳�(duì)�(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻�,并和完好的IC�(jìn)行必��
  2、在路檢�(cè)
  這是一種通過(guò)�(wàn)用表檢測(cè)IC各引腳在路(IC在電路中)直流電�、對(duì)地交直流電壓以及總工作電流的檢測(cè)方法。這種方法克服了代換試�(yàn)法需要有可代換IC的局限性和拆卸IC的麻�,是檢測(cè)IC最常用和實(shí)用的方法�
  3、直流工作電壓測(cè)�
  這是一種在通電情況�,用�(wàn)用表直流電壓擋對(duì)直流供電電壓、外圍元件的工作電壓�(jìn)行測(cè)�;檢�(cè)IC各引腳對(duì)地直流電壓�,并與正常值相�,�(jìn)而壓縮故障范�,出損壞的元�。測(cè)量時(shí)要注意以下八�(diǎn)�
  (1)�(wàn)用表要有足夠大的�(nèi)阻,少要大于被測(cè)電路電阻�10倍以�,以免造成較大的測(cè)量誤��
  (2)通常把各電位器旋到中間位�,如果是電視�(jī),信�(hào)源要采用�(biāo)�(zhǔn)彩條信號(hào)�(fā)生器�
  3)表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞IC。可采取如下方法防止表筆滑動(dòng):取一段自行車(chē)用氣門(mén)芯套在表筆尖�,并�(zhǎng)出表筆尖�0�5mm左右,這既能使表筆尖良好地與被�(cè)試點(diǎn)接觸,又能有效防止打�,即使碰上鄰近點(diǎn)也不�(huì)短路�
  (4)�(dāng)�(cè)得某一引腳電壓與正常值不符時(shí),應(yīng)根據(jù)該引腳電壓對(duì)IC正常工作有無(wú)重要影響以及其他引腳電壓的相�(yīng)變化�(jìn)行分�� 能判斷IC的好��
  (5)IC引腳電壓�(huì)受外圍元器件影響。當(dāng)外圍元器件發(fā)生漏電、短�、開(kāi)路或變值時(shí),或外圍電路連接的是一�(gè)阻值可變的電位�,則電位器滑�(dòng)臂所處的位置不同,都�(huì)使引腳電壓發(fā)生變��
  (6)若IC各引腳電壓正�,則一般認(rèn)為IC正常;若IC部分引腳電壓異常,則�(yīng)從偏離正常值處入手,檢查外圍元件有�(wú)故障,若�(wú)故障,則IC很可能損��
  (7)�(duì)于動(dòng)�(tài)接收裝置,如電視�(jī),在有無(wú)信號(hào)�(shí),IC各引腳電壓是不同�。如�(fā)�(xiàn)引腳電壓不該變化的反而變化大,該隨信�(hào)大小和可�(diào)元件不同位置而變化的反而不變化,就可確定IC損壞�
  (8)�(duì)于多種工作方式的裝置,如錄像�(jī),在不同工作方式下,IC各引腳電壓也是不同的�
  4.交流工作電壓測(cè)量法
  為了掌握IC交流信號(hào)的變化情�,可以用帶有db插孔的萬(wàn)用表�(duì)IC的交流工作電壓�(jìn)行近似測(cè)�。檢�(cè)�(shí)�(wàn)用表置于交流電壓�,正表筆插入db插孔;對(duì)于無(wú)db插孔的萬(wàn)用表,需要在正表筆串接一�0�1�0�5μf隔直電容。該法適用于工作頻率較低的IC,如電視�(jī)的視頻放大級(jí)、場(chǎng)掃描電路�。由于這些電路的固有頻率不�,波形不�,所以所�(cè)的數(shù)�(jù)是近似�,只能供參��
  5.總電流�(cè)量法
  該法是通過(guò)檢測(cè)IC電源�(jìn)線的總電流,�(lái)判IC好壞的一種方�。由于IC�(nèi)部絕大多�(shù)為直接耦合,IC損壞�(shí)(如某一�(gè)pn�(jié)擊穿或開(kāi)路)�(huì)引起后級(jí)飽和與截�,使總電流發(fā)生變�。所以通過(guò)�(cè)量總電流的方法可以判IC的好�。也可用�(cè)量電源通路中電阻的電壓�,用歐姆定律�(jì)算出總電流��

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