特征X射線及其衍射X射線是一種波�(zhǎng)(0.06-20nm)很短的電磁波,能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)�(fā)�、照相機(jī)乳膠感光、氣體電�。用高能電子束轟擊金屬靶�(chǎn)生X射線,它具有靶中元素相對(duì)�(yīng)的特定波�(zhǎng),稱為特征X射線。如銅靶�(duì)�(yīng)的X射線波長(zhǎng)�0.154056 nm�
x射線的波�(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相�,晶體可以作為X射線的空間衍射光�,即一束X射線照射到物體上�(shí),受到物體中原子的散射,每�(gè)原子都產(chǎn)生散射波,這些波互相干涉,�(jié)果就�(chǎn)生衍�。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加�(qiáng),在其他方向上減�。分析衍射結(jié)果,便可獲得晶體�(jié)�(gòu)。以上是1912年德國物理學(xué)家勞�(M.von Laue)提出的一�(gè)重要科學(xué)�(yù)見,隨即被實(shí)�(yàn)所證實(shí)�1913年,英國物理�(xué)家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在勞厄發(fā)�(xiàn)的基�(chǔ)上,不僅成功的測(cè)定了NaCl,KCl等晶體結(jié)�(gòu),還提出了作為晶體衍射基�(chǔ)的公式——布拉格方程�2dsinθ=nλ�
�(duì)于晶體材料,�(dāng)待測(cè)晶體與入射束呈不同角度時(shí),那些滿足布拉格衍射的晶面就�(huì)被檢�(cè)出來,體�(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射�(qiáng)度的衍射峰。對(duì)于非晶體材料,由于其�(jié)�(gòu)不存在晶體結(jié)�(gòu)中原子排列的�(zhǎng)程有序,只是在幾�(gè)原子范圍�(nèi)存在著短程有�,故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰�
X射線衍射儀是利用衍射原�,�(cè)定物�(zhì)的晶體結(jié)�(gòu),織構(gòu)及應(yīng)�,的�(jìn)行物相分�,定性分�,定量分析.廣泛�(yīng)用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學(xué),材料生產(chǎn)等領(lǐng)�.
X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)�(nèi)部微觀�(jié)�(gòu)的一種大型分析儀�,廣泛應(yīng)用于各大、專院校,科研院所及廠礦企�(yè)。常見具備x射線衍射儀檢測(cè)能力的機(jī)�(gòu)有:四川大學(xué)、西南交通大�(xué)、西南石油大�(xué)、中�(lán)晨光化工研究�、華通特種工程塑料研究中心等�
X射線衍射儀的形式多種多�, 用途各�, 但其基本�(gòu)成很相似, �4為X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖, 主要部件包括4部分�
�1� 高穩(wěn)定度X射線源 提供�(cè)量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波�(zhǎng), �(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的�(qiáng)��
�2� 樣品及樣品位置取向的�(diào)整機(jī)�(gòu)系統(tǒng) 樣品須是單晶、粉�、多晶或微晶的固體塊�
�3� 射線檢測(cè)器 檢測(cè)衍射�(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向, 通過儀器測(cè)量記錄系�(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜�(shù)�(jù)�
�4� 衍射圖的處理分析系統(tǒng) �(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟件的�(jì)算機(jī)系統(tǒng), 它們的特點(diǎn)是自�(dòng)化和智能��
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