一種精密測量直線距離的儀器﹐簡稱比長儀�
Abbe comparator 一種精密測量直線距離的儀器,簡稱比長儀。在文工作中,用于測量底片上譜線間的距離。比長儀的程200毫米,測量精度可達±1.5微米。儀器分三部�:� 精密導軌。②置片�,是一塊可沿導軌移動的鋼板,的一側裝著一條透明毫米�,另一側放待測底片。③架固定聯(lián)結的顯微鏡:一架用來對準光譜線(或物體�� 稱為對準顯微�;另一架用來對準毫米尺上的刻線和數(shù),稱為讀�(shù)顯微��
【中文詞條】阿貝比長儀
【外文詞條】Abbe comparator
一種精密測量直線距離的儀器﹐簡稱比長儀。在天文工作中﹐用于測量底片上譜線間的距�。比長儀的量�200毫米﹐測量精度可達�1.5微米。儀器分三部分﹕精密導軌。置片臺﹐是一塊可沿導軌移動的鋼板﹐它的一側裝著一條透明毫米尺﹐另一側放待測底片。兩架固定聯(lián)結的顯微鏡﹕一架用來對物體﹐稱為對準顯微鏡﹔另一架用來對準毫米尺上的刻線和讀�(shù)﹐稱為讀�(shù)顯微�。移動置片臺﹐當對準顯微鏡從對準一條譜線到另一條譜線時﹐讀�(shù)顯微鏡對準的毫米尺上的二次讀�(shù)之差﹐即為譜線間的距�。根�(jù)阿貝提出的原理﹐只要待測對象和毫米尺地位于同一高度﹐置片臺的滑動誤差就不會影響測量精度。為了消除對準誤差﹐可將底片�180°再測量一�。熟練的測量者用這種儀器測量不對稱的譜線﹐精度往往比自動測量儀器還�。用比長儀測量底片上待測譜線和比較譜線的位置﹐根據(jù)�(jīng)驗公式就可以計算出待測譜線的波長�
阿貝比長儀光路
被測物體通過反射�9 照明(�1) ,�3 倍物鏡組2 成像在目�1 的分劃板�,用目�1 進行對線。二者組成對?線顯微鏡,其放大率�30 �。同�,由反射鏡8 照明安裝在儀器工作臺上的標尺5 ,�(jīng)物鏡4 放大5 倍后成像在帶有阿基米德雙螺線的分劃板7 �,從目�6 中進行讀�(shù)。目�6 、分劃板7 組成測微目鏡,測微目鏡、物鏡組4 組成讀�(shù)顯微�,其放大率�60倍�
測微目鏡結構
測微目鏡的結構見�2 ,在固定分劃板4 上均勻刻有總長度�5 mm �10 個分�,轉動齒輪手柄2 ,通過齒輪傳動,帶動旋轉分劃�7 圍繞作為軸的小鋼�5 轉動,在旋轉分劃板上刻�10 圈阿基米德雙螺線,其螺距為0. 5 mm ,在雙螺線�(nèi)側刻劃有100 等分圓周刻度,在讀�(shù)顯微鏡目鏡中看到的分劃板如圖3 所��
測量原理和精�
儀器設計要求讀�(shù)顯微鏡物鏡的放大率必須為5 �,這樣,石英標尺上相距為1 mm 的兩條刻劃線,�(jīng)物鏡�?像在?分劃板上�,其像的間距為5 mm ,剛好與固定分劃板�10 個分度的總長度相�,這樣,固定分劃板上的一個刻度格的長�,對應于石英標尺上的實際距離為0. 1 mm。因此二圈螺旋線之分度值為l/ 10 mm。圓刻尺一個分度值為1/ 1 000 mm。因此轉動手�2,分別讀出轉動前和轉動后的讀�(shù)便可以得出移動的長度�
傳統(tǒng)阿貝比長儀的不�
(1) 由于讀�(shù)顯微鏡物鏡放大倍數(shù)不準帶來的誤��
(2) 偏心差引起的誤差。主要由阿基米德螺線細分結構引起�
(3) 判讀誤差。在用測微目鏡進行測量�,是通過使被測刻劃線的像位于阿基米德雙螺線的中心位置來進行判讀�。在不同判讀條件下人眼瞄準的判讀誤差是不同的�
測微目鏡結構
測微目鏡的結構見�2 ,在固定分劃板4 上均勻刻有總長度�5 mm �10 個分�,轉動齒輪手柄2 ,通過齒輪傳動,帶動旋轉分劃�7 圍繞作為軸的小鋼�5 轉動,在旋轉分劃板上刻�10 圈阿基米德雙螺線,其螺距為0. 5 mm ,在雙螺線�(nèi)側刻劃有100 等分圓周刻度,在讀�(shù)顯微鏡目鏡中看到的分劃板如圖3 所��
測量原理和精�
儀器設計要求讀�(shù)顯微鏡物鏡的放大率必須為5 �,這樣,石英標尺上相距為1 mm 的兩條刻劃線,�(jīng)物鏡�?像在?分劃板上�,其像的間距為5 mm ,剛好與固定分劃板�10 個分度的總長度相�,這樣,固定分劃板上的一個刻度格的長�,對應于石英標尺上的實際距離為0. 1 mm。因此二圈螺旋線之分度值為l/ 10 mm。圓刻尺一個分度值為1/ 1 000 mm。因此轉動手�2,分別讀出轉動前和轉動后的讀�(shù)便可以得出移動的長度�
傳統(tǒng)阿貝比長儀的不�
(1) 由于讀�(shù)顯微鏡物鏡放大倍數(shù)不準帶來的誤差�
(2) 偏心差引起的誤差。主要由阿基米德螺線細分結構引起�
(3) 判讀誤差。在用測微目鏡進行測量�,是通過使被測刻劃線的像位于阿基米德雙螺線的中心位置來進行判讀的。在不同判讀條件下人眼瞄準的判讀誤差是不同的�
測量原理和精�
儀器設計要求讀�(shù)顯微鏡物鏡的放大率必須為5 �,這樣,石英標尺上相距為1 mm 的兩條刻劃線,�(jīng)物鏡�?像在?分劃板上�,其像的間距為5 mm ,剛好與固定分劃板�10 個分度的總長度相�,這樣,固定分劃板上的一個刻度格的長�,對應于石英標尺上的實際距離為0. 1 mm。因此二圈螺旋線之分度值為l/ 10 mm。圓刻尺一個分度值為1/ 1 000 mm。因此轉動手�2,分別讀出轉動前和轉動后的讀�(shù)便可以得出移動的長度�
傳統(tǒng)阿貝比長儀的不�
(1) 由于讀�(shù)顯微鏡物鏡放大倍數(shù)不準帶來的誤��
(2) 偏心差引起的誤差。主要由阿基米德螺線細分結構引起�
(3) 判讀誤差。在用測微目鏡進行測量�,是通過使被測刻劃線的像位于阿基米德雙螺線的中心位置來進行判讀�。在不同判讀條件下人眼瞄準的判讀誤差是不同的�
傳統(tǒng)阿貝比長儀的不�
(1) 由于讀�(shù)顯微鏡物鏡放大倍數(shù)不準帶來的誤��
(2) 偏心差引起的誤差。主要由阿基米德螺線細分結構引起�
(3) 判讀誤差。在用測微目鏡進行測量�,是通過使被測刻劃線的像位于阿基米德雙螺線的中心位置來進行判讀�。在不同判讀條件下人眼瞄準的判讀誤差是不同的�
結構的改�
針對誤差�(chǎn)生的原因,對原阿貝比長儀的一種改進�
�1)用容柵千分尺代替阿基米德螺線細分結��
容柵千分尺讀�(shù)可分辨到0. 1μm ,如果通過合理的設計安�,利用容柵千分尺來代替阿貝比長儀,測微目鏡中的光學放大加阿基米德螺線細分結�,就可以有效消除在前面關于比長儀主要儀器誤差來源中提出�,由于物鏡放大倍數(shù)不準及旋轉分劃板上阿基米德螺線偏心所引起的誤��
�2)對儀器分劃板的改�
通過前面的改�,雖然完全消除了讀�(shù)顯微鏡物鏡放大倍數(shù)不準及阿基米德螺線偏心帶來的誤差,但判讀方法并不理想,為了能更好地進行判讀。參照原測微目鏡固定分劃板的尺寸,設計、改裝了如圖所示的分劃��
改進型比長儀的優(yōu)�
比長儀可以完全去掉結構復雜的測微目�,故可大幅度降低儀器的制造成�。如果用一個放大倍率更大的目鏡則可提高測量的判讀精度(原儀器將讀�(shù)顯微鏡目鏡的倍率設計�5 �,是為了有2 mm 的視�,改造后則無此要�) 。通過容柵千分尺自帶的串行通訊�,還可實現(xiàn)用計算機實時采集�(shù)�(jù)�
改進型比長儀的優(yōu)�
比長儀可以完全去掉結構復雜的測微目�,故可大幅度降低儀器的制造成�。如果用一個放大倍率更大的目鏡則可提高測量的判讀精度(原儀器將讀�(shù)顯微鏡目鏡的倍率設計�5 �,是為了有2 mm 的視�,改造后則無此要�) 。通過容柵千分尺自帶的串行通訊�,還可實現(xiàn)用計算機實時采集�(shù)�(jù)�
機械工程是以有關的自然科學和技術科學為理論基礎,結合生�(chǎn)實踐中的技術經(jīng)驗,研究和解決在開發(fā)、設計、制�、安�、運用和修理各種機械中的全部理論和實際問題的應用學科�
以有關的自然科學和技術科學為理論基礎,結合生�(chǎn)實踐中的技術經(jīng)�� 研究和解決在開發(fā)、設計、制�、安裝、運用和修理各種機械中的全部理論和實際問題的應用學科。機械是�(xiàn)代社會進行生產(chǎn)和服務的五大要素(人、資�、能源、材料和機械�,并參與能量和材料的生產(chǎn)�
光學儀器是由單個或多個光學器件組合構�。光學儀器主要分為兩大類,一類是成實像的光學儀器,如幻燈機、照相機�;另一類是成虛像的光學儀�,如望遠�、顯微鏡、放大鏡��
光學儀器是儀器儀表行�(yè)中非常重要的組成類別,是工農(nóng)�(yè)生產(chǎn)、資源勘掀空間探�、科學實�、國防建設以及社會生活各個領域不可缺少的觀�、測試、分�、控制、記錄和傳遞的工�。特別是�(xiàn)代光學儀器的功能已成為人腦神�(jīng)功能的延伸和拓展�
比長儀,comparator,以不接觸光學定位方法瞄準被測長�,主要用于測量線紋距離的精密長度測量工具�
比長儀一般采用測量顯微鏡或光電顯微鏡作為瞄準定位部件,并以精密線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度,與被測長度比較而確定量�。比長儀主要用于檢定線紋尺,測量分劃板上的線距和物理、天文類照相底片上的光波譜線距離,也可用于測量孔徑�
比長儀按結構布局分為縱向的和橫向的兩�。縱向比長儀采用線紋尺作為已知長�,且結構設計符合阿貝原則(見長度測量工�),稱為阿貝比長儀(見圖[阿貝比長儀])。測量時,先用測量顯微鏡瞄準被測線�,從讀�(shù)顯微鏡讀得一�(shù)�。然后移動工作臺,再用測量顯微鏡瞄準另一被測線條,從讀�(shù)顯微鏡讀得另一�(shù)值。這兩個數(shù)值之差即是被測兩線條間距�。橫向比長儀的被測長度和已知長度是并列布置的,這種布局可以縮短導軌長度,但要求導軌精度高。采用愛賓斯坦光學系�(tǒng),可以補償結構不符合阿貝原則而產(chǎn)生的測量誤差。以光電顯微鏡代替上述兩種顯微鏡�,稱為光電比長儀;采用激光或其他單色光波長作為已知長度�,分別稱為激光比長儀和光電光波比長儀。阿貝比長儀的測量度為�1~�1.5微米/200毫米,光電比長儀可達到�0.5微米/1000毫米,而光電光波比長儀和激光比長儀則可達到±0.2微米/1000毫米�
1� 將比長儀放在工作臺上,將標準桿放入比長儀上下測頭球面孔內(nèi),松開上測頭鎖緊螺母、調(diào)整上測頭與百分表使刻度盤上�0”位于百分表指針對齊�,將上測頭鎖緊螺母擰��
2� 將被測試體擦�,一端釘頭放入比長儀下測頭球面孔�(nèi),另一端釘頭輕輕放入比長儀上測頭的球面孔內(nèi)�
3� 左右旋轉被測體,使試體與比長儀下測頭良好接�。檢查比長儀上下測頭球面孔內(nèi)是否有砂粒等臟物�
4� 測量試體讀�(shù)�,首先讀表盤�(nèi)小表針所指示的數(shù)值,然后再讀大表針所指示的數(shù)��
5� 比長儀是一種精密的測量儀器,在使用過程中一定要輕拿輕放,保持整��
維庫電子�,電子知�,一查百��
已收錄詞�170104�