粒度儀可分為納米粒度儀�激光粒度儀,單顆粒光阻法粒度儀和圖像粒度儀等�
粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀�。根�(jù)測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天�、激光粒度儀、光�(xué)顆粒�(jì)�(shù)��電阻式顆粒計(jì)�(shù)�、顆粒圖像分析儀��
◆測量范圍: 0.046μm�600μm,不分檔,全量程測試�
◆應(yīng)用范圍:化工、核工業(yè)、電�、電池材料、造紙、冶金、陶�、建�、化妝品、磨料、醫(yī)�、涂料、水�、食品、農(nóng)�、金屬與非金屬粉�、碳酸鈣、滑石粉、高嶺土、鈦白粉、氧化鋁、稀�、硬�(zhì)合金、催化劑、發(fā)泡劑、云�、耐火材料、填料、石�、顏料、等各種行業(yè)粉料、乳液的粒度測試�
◆測試原理:散射、衍射原理、全量程米氏� Mie)散射理論和專有技�(shù)�(jì)��
◆信�(hào)光源:氦氖激光器作為主光源,波長�0.6328μm,使用壽命達(dá)�5年以�,實(shí)際使用基本達(dá)10年以�。紫光為輔助光源�
◆探 � 器:采用大角度大�(guī)模集成電路多元專用探測器�80�(jí)的通道�(shù),對(duì)前向、側(cè)向和后向的散射信�(hào)�(jìn)行全方位的探測�
◆測試精度:集光�(xué)、電�、樣品超聲分�、循�(huán)、清洗一體化�(jié)�(gòu),樣品在管道�(nèi)的流�(dòng)�(shí)間短,避免了樣品分散后的分層和重新團(tuán)�。重�(fù)性、穩(wěn)定性達(dá)到國外同類型儀器測量水�,D50粒徑重復(fù)性誤差達(dá)�1�
◆測試方法:�(jì)算機(jī)控制全自�(dòng)操作,只需按一�(gè)�, 樣品分散池內(nèi)�(huì)自動(dòng)�(jìn)水,�(dāng)電腦提示加粉,操作員�1g左右的樣品放�(jìn)分散池后,超聲波自動(dòng)分散攪拌�,再循環(huán)到測試區(qū)�,電腦自�(dòng)分析處理�1分鐘�(nèi)�(jié)果顯�。也可以�(shù)�(jù)庫和文本文件等多種形式保��
◆測試軟件:在Windows98/2000/XP系統(tǒng)下運(yùn)行,操作界面友好,菜單提示完整,�(jié)果以粒度分布�(shù)�(jù)表格和曲線圖顯示,同�(shí)提供 D10、D50、D90、D97、體積平均粒�(D4,3)、面積平均粒�(D3,2)、比表面�、自由分布、對(duì)�(shù)正態(tài)分布、R-R分布等多種分布模�,有中英文版本格�,供用戶選擇使用�
◆工作電源:交流 220V ±10% 50Hz 300W
◆儀器外形:840×370×450(mm) 重量:約80kg
�(chǎn)品簡�
通過氣體滲透法測量粒度,采用了廣為�(yīng)用的FSSS(費(fèi)歇爾95型亞篩分篩子)的技�(shù),并在此基礎(chǔ)上升�(jí):增加了自動(dòng)化功�,電子文檔記錄以及數(shù)�(jù)顯示功能�
技�(shù)參數(shù)
·控制軟件-HEL控制軟件可實(shí)�(xiàn)儀器運(yùn)行、數(shù)�(jù)采集和處�,報(bào)告和系統(tǒng)集成�(shè)��
·快速和方便的設(shè)�-簡單的逐步�(shè)置,易于遵循,確保沒有漏掉參�(shù)
·Easy模式-一按“開始”按�,即可運(yùn)行預(yù)先設(shè)定好的所有參�(shù)�
·�(shí)�(shí)�(shù)�(jù)顯示-可通過一�(gè)簡單的方式查看實(shí)�(shí)�(shù)�(jù)
·�(bào)告生�-公司的logo、打印格�、版式均可添加到�(bào)告中
·安全�-可選的密碼保�(hù)將樣品測試結(jié)果與用戶ID綁定,確保檢測結(jié)果不被更�
�(chǎn)品簡�
麥克默瑞提克(上海)儀器新一代的粒度儀將成熟的SediGraph分析技�(shù)與的檢測儀器功能相�(jié)�,提供的重復(fù)性、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)�。SediGraphIII通過X射線吸收測量樣量,利用標(biāo)�(zhǔn)的沉降法測量粒度,無需建模。該�(chǎn)品的技�(shù)已成為造紙、陶�、磨料等�(shù)�(gè)行業(yè)的金色標(biāo)�(zhǔn)�
SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒�。通過�(duì)X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降,即可以�(yùn)用Stokes方程來計(jì)算顆粒的等效球直�。在這種情況�,報(bào)告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑�
技�(shù)特點(diǎn)
高精度X射線��7年保�
簡化的泵系統(tǒng),確??焖俜治霾⒁子诰S�(hù)
低噪音,提供安靜的工作環(huán)�
維護(hù)提醒裝置,根�(jù)已分析的樣品�(shù)自動(dòng)提醒維護(hù)
混合室溫度電腦控制,提高重復(fù)性與重現(xiàn)�
多功能報(bào)告系�(tǒng)可提供包括顆粒沉降速度和粒度等多種�(shù)�(jù)顯示選項(xiàng)
操作軟件可連接�(wǎng)�(luò),提供選擇、網(wǎng)�(luò)�、打印機(jī)選擇、剪切和粘貼等功�
完全符合ASTM B761-06(2011)、ASTM C958-92(2007)、ISO 13317-1:2001、ISO 13317-3:2001等標(biāo)�(zhǔn)
�(chǎn)品應(yīng)�
適合于各種無�(jī)材料顆粒大小的分析研究尤其是非金屬礦�,例如:高嶺�、重�、輕�、粘�、泥漿等材料的分�,是高嶺�,重鈣,輕鈣粒徑的標(biāo)�(zhǔn)分析儀��
�(chǎn)品簡�
麥克默瑞提克(上海)儀器新一代的粒度儀將成熟的SediGraph分析技�(shù)與的檢測儀器功能相�(jié)合,提供的重�(fù)�、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)�。SediGraphIII通過X射線吸收測量樣量,利用標(biāo)�(zhǔn)的沉降法測量粒度,無需建模。該�(chǎn)品的技�(shù)已成為造紙、陶�、磨料等�(shù)�(gè)行業(yè)的金色標(biāo)�(zhǔn)�
SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過�(duì)X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃�。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降,即可以�(yùn)用Stokes方程來計(jì)算顆粒的等效球直�。在這種情況下,�(bào)告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直��
技�(shù)特點(diǎn)
高精度X射線管,7年保�
簡化的泵系統(tǒng),確保快速分析并易于維護(hù)
低噪�,提供安靜的工作�(huán)�
維護(hù)提醒裝置,根�(jù)已分析的樣品�(shù)自動(dòng)提醒維護(hù)
混合室溫度電腦控制,提高重復(fù)性與重現(xiàn)�
多功能報(bào)告系�(tǒng)可提供包括顆粒沉降速度和粒度等多種�(shù)�(jù)顯示選項(xiàng)
操作軟件可連接�(wǎng)�(luò),提供選�、網(wǎng)�(luò)化、打印機(jī)選擇、剪切和粘貼等功�
完全符合ASTM B761-06(2011)、ASTM C958-92(2007)、ISO 13317-1:2001、ISO 13317-3:2001等標(biāo)�(zhǔn)
�(chǎn)品應(yīng)�
適合于各種無�(jī)材料顆粒大小的分析研究尤其是非金屬礦物,例如:高嶺土、重�、輕�、粘�、泥漿等材料的分析,是高嶺土,重鈣,輕鈣粒徑的標(biāo)�(zhǔn)分析儀��
�(chǎn)品簡�
這種新型的激光粒度分析儀同納米粒度儀和zeta電位一樣是麥克默瑞提克(上海)儀器采用的CCD光學(xué)技�(shù)和數(shù)字信�(hào)處理技�(shù),具有極高的分辨�、精度和重復(fù)性。即使對(duì)于極�(fù)雜的樣品,較高的粒度分辨率也可顯示其他激光粒度儀很難�(fā)�(xiàn)的信�,提供更�(zhǔn)確的�(jié)果。此�,儀器的測量速度快,測量�(jié)果重�(xiàn)性好,使用不同的Saturn?DigiSizer激光粒度儀,在范圍�(nèi)均可得到可重�(xiàn)的實(shí)�(yàn)�(jié)果�
技�(shù)特點(diǎn)
·測量范圍�0.04to2500μm
·液體樣品處理單元�(jìn)行全自動(dòng)樣品制備、稀釋和分散??蛇x�(biāo)�(zhǔn)配置或小體積配置
·可選符合FDA要求的Confirm21CFRPart11軟件??商峁㊣Q和OQ�(rèn)證服�(wù),確保該系統(tǒng)的準(zhǔn)確�、可靠性和一致性。這些服務(wù)保障了分析記錄的完整�
·選配的MasterTech052自動(dòng)�(jìn)樣器提供多至18�(gè)樣品的自�(dòng)�(jìn)�,無需人為介入
·配備多達(dá)340萬�(gè)檢測元素的專利高精度�(dòng)�(tài)航天�(jí)CCD檢測�
�(chǎn)品簡�
與其他測量技�(shù)不同,電阻法能測量不同光�(xué)性質(zhì)、密�、顏色和形狀的樣品。新的ElzoneII5390是麥克默瑞提克(上海)儀器采用了這一�(qiáng)大的顆粒表征技�(shù)來確定有�(jī)或者無�(jī)材料顆粒的大�,數(shù)量濃度與�(zhì)量。儀器的測量粒度范圍�>400nm)適用于各種工業(yè),生物和地質(zhì)樣品。分析簡單快�、體積小巧的Elzone?II適用于工�(yè)�(zhì)量控制與研發(fā)�(shí)�(yàn)中高精度高分辨率的顆粒表征�
技�(shù)特點(diǎn)
·可使用不同導(dǎo)電性的液體,無需知道粘度
·無需了解材料的密度、折射率等性質(zhì)
·儀器全自動(dòng)功能包括啟動(dòng),運(yùn)行和�(guān)閉程�;檢測和清除堵塞;沖�/清洗和校�(zhǔn)
·粒徑分析范圍0.4-1200微米
·體積濃度1-1000ppm(0.1%)
·感應(yīng)�1-5000�(gè)顆粒/�
·法拉第屏蔽避免外界對(duì)電子檢測器的電子干擾
·在電子干擾小的地方可�(jìn)行開放式操作
·樣品的顏色和折射率不�(huì)影響操作
·自動(dòng)障礙物檢測和清除功能
·可準(zhǔn)確輕松分析低�(zhì)量樣�
·可提供IQ、OQ�(rèn)證文件可選滿足FDA的要求的Confirm21CFRPart11的軟�。IQ和OQ�(rèn)證服�(wù),確保該系統(tǒng)的準(zhǔn)確�,可靠性和一致�。這些服務(wù)保障了分析記錄的完整�
�(chǎn)品應(yīng)�
用于分析有機(jī)或者無�(jī)材料顆粒的大�,數(shù)量濃度與�(zhì)量,適用于分析同�(shí)具有光學(xué)性質(zhì)、密度和形狀的樣��
X10:顆粒累�(jì)分布�10%的粒�,即小于此粒徑的顆粒體積含量占全部顆粒的10%�
X50:顆粒粒徑分布為50%的粒徑,即小于此粒徑的顆粒體積含量占全部顆粒�50%�
X90:顆粒粒徑分布為90%的粒�,即小于此粒徑的顆粒體積含量占全部顆粒的90%�
Xav:顆粒群的平均粒��
S/V:體積比表面�,即單位體積顆粒的表面積�
X[3�2]:表面積平均粒徑,是粒徑�(duì)表面積的加權(quán)平均,又稱索太爾平均��
X[4�3]:體積平均粒�,是粒徑�(duì)體積(或重量)的加權(quán)平均,顆粒群的平均粒��
維庫電子�,電子知�(shí),一查百��
已收錄詞�170104�(gè)