白光干涉儀SIS系列采用增加相位掃描干涉技�(shù),是專為�(zhǔn)確測量表面輪�、粗糙度、臺階高度和其他表面參數(shù)而設(shè)計的微納米測量系�(tǒng),,為韓國SAMSUNG全球指定供應(yīng)�,LPL友好俱樂部成員,清華大學(xué),臺灣大�(xué),首爾大�(xué)友好合作伙伴�
1、非接觸式測量:避免物件受損�
2、三維表面測量:表面高度測量范圍�1nm-200μm�
3、多重視野鏡片:方便物鏡的快速切��
4、納米級分辨率:垂直分辨率可以達(dá)�0.1nm�
5、高速數(shù)字信號處理器:實(shí)�(xiàn)測量僅需要幾秒鐘�
6、掃描儀:采用閉�(huán)控制系統(tǒng)�
7、工作臺:氣動裝�、抗震、抗��
8、測量軟件:基于windows 操作系統(tǒng)的用戶界�,強(qiáng)大而快速的�(yùn)算�
1、TFT�(chǎn)�(yè)
2、半�(dǎo)�
3、MEMS
4、高??蒲?/FONT>
5、精密加�
維庫電子�,電子知識,一查百��
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