嵌入�存儲�是在嵌入�微處理器片上集成的存儲器,用來做代碼或其他需要長久數(shù)�(jù)的存�。嵌入式存儲器采用的是類似計算機(jī)的設(shè)計方�,差異主要體�(xiàn)在體�、功�、價格和嵌入�處理�的存儲器大小及可�(kuò)展性等�
(1)易失�
易失性是區(qū)分存儲器種類的重要外部特性之一。易失性是指電源斷開后,存儲器的內(nèi)容是否丟失,如果某種存儲器在斷電�,仍能保持其中的�(nèi)�,則稱為非易失性存儲器。否�,就叫易失性存儲器。對于易失性存儲器來說,即使電源只是瞬間斷�,也會使原有的指令和�(shù)�(jù)丟失,因�,計算機(jī)每次啟動時,都要對這部分存儲器中的程序�(jìn)行裝�,在大多�(shù)微型計算�(jī)使用的場合中,要求系�(tǒng)必須至少有一部分存儲器是非易失性的�
在存儲器�,外部存儲器一般都是非易失性的,如,軟盤,硬盤,磁�。半�(dǎo)體存儲器�,ROM�(dāng)然也是非易失性的,所以,微型計算�(jī)系統(tǒng)�,用ROM來存放系�(tǒng)啟動程序,監(jiān)控程序和基本輸入/輸出程序�
(2)只讀�
只讀性是區(qū)分存儲器種類的又一重要特性。如果某個存儲器中寫入數(shù)�(jù)�,只能被讀出,但不能用通常的辦法重寫或改寫,那么這種存儲器就叫只讀存儲器,即ROM(ReadOnlyMemory);如果一個存儲器在寫入數(shù)�(jù)�,即可對他�(jìn)行讀�,又可再對它寫入,那么就叫可讀/寫存儲器。大家常聽到的隨�(jī)存取存儲�,本是指對所有的存儲單元都可用同樣的時間�(jìn)行訪�。與隨機(jī)存取對應(yīng)的是按序存取,在這種方式中,存取�(shù)�(jù)必須按順序�(jìn)�,某個時候,如果要對兩個位置上的數(shù)�(jù)�(jìn)行訪�,那�,所需要的時間往往是不同的。當(dāng)�,計算機(jī)的內(nèi)存實際上都是隨機(jī)存取存儲器,不過,作為歷史上沿用下來的專有名詞,隨機(jī)存取存儲�(RAM------RandomAccessMemory)實際上只是指可讀/寫存儲器。所�,按照只讀性來區(qū)�,計算機(jī)的內(nèi)存分為兩個主要的類型,即ROM和RAM,ROM除了具有只讀性外,當(dāng)然還具有非易失��
(3)位容�
用大�(guī)模集成電路構(gòu)成的半導(dǎo)體存儲器常用位容量來表示存儲功能。比如,一�4K*1和一�1K*4的器�,他們的位容量是一樣的,但�,前者可以用來組�4K的內(nèi)存單元的某一�,芯片只�1個數(shù)�(jù)輸入端和1個數(shù)�(jù)輸出端,在存儲容量較大的系統(tǒng)�,一般都采用這樣的器件;后者則可以用來組成1K�(nèi)存單元的�4�,有4個數(shù)�(jù)輸入端和4個數(shù)�(jù)輸出�,在�(nèi)存較小的系統(tǒng)�,一般采用這樣的器�,當(dāng)然,總的�,應(yīng)該采用位容量高的器件�
(4)速度
存儲器的速度是用存儲器訪問時間來衡量�,訪問時間就是指存儲器接收到�(wěn)定的地址深入到完成操作的時間,比�,讀出是,存儲器往�(shù)�(jù)總線上輸出數(shù)�(jù)就是操作�(jié)束的�(biāo)志。訪問時間的長短決定于許多因�,主要與制造器件的工藝有關(guān),當(dāng)�,半�(dǎo)體存儲器主要用兩大類工藝,一類是雙極型技�(shù),一類是互補(bǔ)金屬氧化物半�(dǎo)體技�(shù)。用前一類技�(shù)制造的器件�,但功耗大,價錢也�;用后一種技�(shù)制造的器件功耗非常低,但速度較慢,不�,隨著工藝的提高和改�(jìn),此類器件的速度也在不斷提高�
(5)功�
功耗在用電池供電的系統(tǒng)(比如用于野外工作的微型�(jī)系統(tǒng))中是非常重要的問題?;パa(bǔ)金屬氧化物半�(dǎo)體(CMOS--ComplementaryMetal-OxideSemiconductor)能夠很好的滿足低功耗的要求。但是用CMOS制造的器件中每個電路單元要用同樣的芯片面積,這使每個器件的容量減少,并且CMOS器件速度慢,功耗和速度是成正比�,所�,既�(dá)到低功耗又得到高速度是很困難很不�(jīng)�(jì)的。當(dāng)�,高密度金屬氧化物半�(dǎo)體技�(shù)(HMOS---HighdensityMetal-OxideSemiconductor)制造的存儲器件在速度,功耗,器件容量方面�(jìn)行了很好的折��
(6)可靠�
因為集成電路只要在出廠時�(jīng)過了全面的測試就能保證很高的可靠性,所�,存儲器的可靠性主要決定于管腳的接�,插件板的接觸及存儲器模板的�(fù)雜性。器件的引腳減少和內(nèi)存結(jié)�(gòu)的模塊化都是有利于提高可靠性的�
(7)價格
存儲器的價格主要由兩個方面決�,一是存儲器本身的價�,二是存儲器模塊中附加電路的價格,后一類價格也叫固定開銷,因為對不同容量的模塊,這種價格幾乎是一樣的。由此可見,�(yīng)該使模塊的數(shù)目盡可能的少,而每個模塊的容量盡可能的大。同�,電源也是存儲器�(shè)計中�(yīng)該考慮的因素,存儲器所需要的電源種類越少,則存儲模塊的設(shè)計越簡單,并且,也有利于降低整個系�(tǒng)的價��
嵌入式系�(tǒng)中使用的存儲器主要包括:隨機(jī)存儲�;只讀存儲器;雙端口存儲器,主要是雙端口隨�(jī)存儲器�
嵌入式系�(tǒng)中常用的存儲類型如下圖所��
存儲器測試的目的是確�(rèn)在存儲器件中的每一個存儲單元都正常工作�
1. 存儲器件本身的問�
存儲器的問題可能�(fā)生在存儲器芯片的�(nèi)部和外部。內(nèi)部問題表�(xiàn)在存儲器芯片�(nèi)的某一個或某一部分存儲單元出了問題;外部問題指的是存儲器芯片的連線問題、時序問題等�
2. 電子線路的問�
電子線路問題可能是由印制電路板設(shè)計或者制造中的錯誤造成�,也可能是在加工好以后損壞的�
3. 接觸不良
為了檢測這種錯誤,需要設(shè)計適用的算法�
4. 芯片的不正確安裝
如果有存儲器芯片,但是安裝到插槽時不正確,系�(tǒng)通常會表�(xiàn)出好像是一個連線問題或者找不到存儲器芯��
5. 制定測試算法
�(jìn)行測試時需要按照正確的順序�(jìn)�,正確的順序是:首先�(jìn)行數(shù)�(jù)總線測試,接著是地址總線測試,是存儲器件測試�
?�?�(shù)�(jù)總線測試
目的:確定任何由處理器放置在�(shù)�(jù)總線上的值都被另一端的存儲�(shè)備正確接��
方法:走1測試法�
5. 制定測試算法(continued�
?�?地址總線測試
目的:地址總線的問題會�(dǎo)致存儲區(qū)域的重疊
方法:測試位�2n
?�?存儲器件測試
目的:存儲器件測試用于測試存儲器件本身的完整�,要確認(rèn)器件中的每一位都沒有故障�
方法:抽樣測�
?�?綜合測試
�(jìn)行了上面三種測試之后�(jìn)��
1 ROM
小規(guī)模容�,Bootloader載體
容量16KB�32KB
2 SRAM
SRAM Embedded簡稱為嵌入式SRAM
容量�(dá)幾百K字節(jié),用作片上Cache,片上SRAM
3 SDRAM
Synchronous Dynamic Random Access Memory
高密度同步動�(tài)隨機(jī)訪問存儲�
容量�8MB�512MB范圍�(nèi)
4 Flash存儲�
大容量中低密�,容量�(dá)�32GB
維庫電子�,電子知�,一查百��
已收錄詞�162542�