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ic測試�
閱讀�8200時間�2010-09-25 10:15:23

  IC測試�(測試插座)是對IC器件的電性能及電氣連接�(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)�(zhǔn)測試�(shè)備�

主要特點(diǎn)

  1、有一條�(jìn)料管,一條OK出料管及一條FALL出料管,由電磁鐵�(qū)動分選棱到OK/FAIL�

  2、有自動,OK測試,F(xiàn)AIL測試三種模式選用

  3、有及暫停模�,分別用于檢修機(jī)器及臨時排除卡料之用

  4、出料管滿管�(shù)量可由客戶自由設(shè)�

  5、FAIL料可以由用戶�(shè)定重測次�(shù)

  6、測試機(jī)的接口信號高低電平可以由用戶�(shè)�

  7、機(jī)械異常時由LED顯示異常代碼,方便用戶排除故�

  8、可顯示OK/FAIL料的測試�(shù)量及總測試次�(shù)

用�

  ic測試�主要用于檢查在線的單個IC元器件以及各電路�(wǎng)�(luò)的開、短路情�,以及模擬器件功能和�(shù)字器件邏輯功能測��

ic測試的主要目�

  ic測試的主要目的是保證器件在惡劣的�(huán)境條件下能完全實�(xiàn)�(shè)計規(guī)格書所�(guī)定的功能及性能指標(biāo)�

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